製品情報
AMERIGO PLUS
粒子径・ゼータ電位を1台で評価 ― 非接触の In-Situ / In-Line測定にも対応する粒子特性評価システム
Cordouan Technologies社製 AMERIGO PLUS は、動的光散乱法(DLS)による粒子径測定と、レーザードップラー電気泳動法(LDE)によるゼータ電位測定を1台で行える粒子特性評価装置です。
ナノ粒子、エマルション、リポソーム、ポリマー、顔料・インクなどの分散系について、粒子径と表面電荷の両面から分散状態・安定性を評価できます。
さらにAMERIGO PLUSでは、外部測定ヘッドを利用することで、通常のキュベット測定だけでなく、In-Situ、In-Line、高濃度サンプルのDLS測定にも対応します。
製品説明
AMERIGO PLUSは、**Time-Resolved Dynamic Light Scattering(TR-DLS)とHigh Resolution Laser Doppler Electrophoresis(HR-LDE)**を組み合わせた分析システムです。
粒子径測定では複数の散乱角を利用した測定に対応し、AMERIGO PLUSでは17°、90°、170°に加え、Milli-fluidic Head使用時には130°での測定も可能です。
また、外部測定ヘッドを使用することで、サンプルをキュベットへ採取することなく、反応容器内や配管中の粒子径変化をリアルタイムに追跡できます。粒子生成、凝集、分散、製剤安定性など、時間とともに変化するプロセスの評価にも適しています。
主要特長
粒子径とゼータ電位を1台で測定
DLSによる粒子径・粒子径分布と、LDEによるゼータ電位を同一システムで評価。粒子の大きさだけでなく、分散安定性まで総合的に解析できます。
Time-Resolved DLSによる経時変化の評価
粒子径の変化を時間軸で追跡できるため、凝集・分散・粒子形成などの動的な現象の解析に適しています。
マルチアングルDLS測定
17°、90°、170°など複数の散乱角を利用した測定が可能。サンプル特性や測定目的に応じた粒子径評価を行えます。
In-Situ測定
外部In-Situ Headを使用することで、反応容器などの外側から非接触でDLS測定が可能です。サンプリングによるプロセスへの影響やコンタミネーションリスクを低減しながら、粒子径変化をリアルタイムに追跡できます。
In-Line測定
Milli-fluidic Headを使用することで、配管やマイクロ流路を流れるサンプルの粒子径を測定可能。プロセス中の粒子径変化をリアルタイムにモニタリングできます。
高濃度・着色サンプルにも対応
High Concentration Remote Headでは、最大40%の高濃度サンプルや、不透明・暗色のサンプルにも対応。15~400 µLのサンプル量で測定できます。
耐久性に優れた再使用可能電極
ゼータ電位測定には、水系・有機溶媒系に対応する耐久性の高い再使用可能な電極を採用。ディスポーザブル電極の使用を抑え、ランニングコストを低減します。
主な用途
- ナノ粒子・コロイドの粒子径/ゼータ電位評価
- 医薬品・DDS製剤の分散安定性評価
- リポソーム・脂質ナノ粒子などの特性評価
- エマルション・懸濁液の安定性評価
- 粒子形成・凝集プロセスの経時モニタリング
- In-Situでの反応・製造プロセスモニタリング
- In-Lineでの連続プロセスモニタリング
- 高濃度・着色・不透明サンプルの粒子径評価
測定項目
- 粒子径・粒子径分布
- ゼータ電位
- 分散安定性
- 経時的な粒子径変化
- 分子量(SLS)
- マルチアングルDLS(MADLS)
※使用可能な測定モード・測定範囲は構成およびオプションにより異なります。